Home
登入.會員服務
論壇.討論區
LabVIEW轉檔
LabVIEW教學
LabVIEW專家技術專欄
技術專欄
資源中心
線上購物
資料代管
手機簡訊
LabSMS
LabEmail
尋找 專案人才
LabVIEW自動控制專案
關於LabVIEW360
聯絡我們


目前狀態
尚未登入
電子郵件信箱
尚未登入
More Settings
Account Settings
光學膜厚即時監控

光學膜厚即時監控

特色

「光學膜厚監控系統」可適用於光學多 層膜之薄膜自動化製程,適用於塑膠與玻璃基板上製作光學關鍵零 組件品,應用於光學顯示與光通訊技術發展之關鍵元件。可提高鍍膜製程之穩定度與良率,促使新產品開發,提升產品的附加價值 與市場競爭力。

為建立自動化光學鍍膜系統,本公司發展出可以協助國內鍍膜產業自動化升級的系統。由於光學薄膜少則二層,多則數十層,如果完全依賴人工鍍膜,則容易造成膜厚誤判,影響產能,造成企業損失。本產品則可彌補人工判斷的不足,採用廣波域監控的方式,監控多波長的穿透率變化,提升產品良率。

主要功能

  1. 屬於廣波域光學監控
  2. 光學薄膜高低介電膜之厚度控制,自動判斷停鍍點
  3. 監控波長為380nm ~ 900nm
  4. 自動選擇監控波長,也可手動選擇
  5. 預先評估每層薄膜的鍍製行為
  6. 具模擬功能,可用於教學、Demo
  7. 相容於光學膜厚設計軟體,
  8. 防止輸入錯誤之設定檔參數編輯功能
  9. 人機圖形介面,明瞭易懂
  10. 鍍膜過程之全光譜完全紀錄,有助於日後分析、訓練與教學之用

應用領域

可使用本系統用於鍍製以下薄膜:
  • 彩色濾光片 (Color Filter)
  • 抗反射膜 (AR)
  • 相機鏡頭抗反射膜之製鍍
  • 投影機之紅、綠、藍濾光片製鍍
  • 雷射反射鏡
  • 光通訊元件
  • 防偽商標製作
  • 半導體與光電產業等相關鍍膜產業
  • 真空系統與鍍膜製程設備產業
  • 光學系統關鍵零組件

 

軟體畫面


 

 

軟體架構

 

 

 

成品圖庫